PROGRAMME
Mercredi 13 novembre :
11h00 : accueil des participants et des exposants
12h00 : cocktail déjeunatoire - visite des stands & networking
13h55 : introduction
ALPHA-RLH / Photonics France / Bordeaux Technowest
14h15 - 18h00 : conférences
Session #1 : Métrologie dimensionnelle
. 14h15 : Hippolyte Philippon, Kreon
> Comment les bras de scanning 3D redéfinissent le contrôle et la productivité dans l'industrie ?
. 14h30 : Alberto Aguilar, IotaMetrix
> Visualisation des nanostructures par la microscopie optique non destructive
. 14h45 : Johan Boullet, NAQUIDIS Center
> Métrologie quantique : nouvelles perspectives
Session #2 : Métrologie de surface
. 15h00 : Guillaume Machinet, ALPhANOV
> Métrologie optique et procédés laser femtoseconde
. 15h15 : Florent Soulard, Polytec
> Mesure et contrôle d'état de surface sans contact : de la forme à la rugosité
. 15h30 : Audrey Le Lay, Imagine Optic
> Solutions de métrologie optique pour la caractérisation de forme de surfaces
15h45 : Pause café sponsorisée par Mahr – visite des stands & networking
. 16h15 : Matthieu Desjacques, STIL MARPOSS
> Métrologie sans contact : mesures dimensionnelles et états de surface
. 16h30 : Ion Solonari, Mahr
> Caractérisation 3D des états de surface
. 16h45 : François Blateyron, Digital Surf
> Métrologie optique des états de surface et des matériaux
Session #3.1 : Métrologie optique / Vision-images
. 17h00 : Eric Lintingre, Saint-Gobain Aerospace
> Nouvelles techniques de contrôle optique de déviation et de distorsion pour l'aéronautique
. 17h25 : Mélinda Métivier, Evosens
> Développement d'un système de vision industriel miniaturisé en environnement sévère
. 17h40 : Laurent Lamaignère, CEA Cesta
> Contrôle et garantie des performances des composants optiques de l'installation LMJ
. 17h55 : Conclusion du J1
18h00 - 21h30 : afterwork tapas et dîner - Maison Yoü (optionnel, sur inscription) sponsorisé par le CEA Cesta
Jeudi 14 novembre :
8h30 : accueil café
9h00 : introduction du J2
ALPHA-RLH et Photonics France
9h05 - 12h30 : conférences
. 9h05 : Keynote - Marc Himbert, professeur titulaire de la chaire de métrologie, Conservatoire National des Arts et Métiers
> Le système international d'unités : la place de l'optique
Session #3.2 : Métrologie optique / Vision-images
. 9h40 : Jean-Baptiste Perraud, Optikan
> Le CND térahertz à toute vitesse
. 9h55 : Nathalie Despit et Victor Barbosa, TRIOPTICS
> Aligner et optimiser la qualité d'un système optique
Session #4 : Analyse physico-chimique
. 10h10 : Christophe Pécheyran, IPREM
> Analyse de traces élémentaires et isotopiques par micro-échantillonnage laser-spectrométrie de masse inorganique : concepts et applications choisies
. 10h25 : Sylvain Bérail, Advanced Isotopic Analysis
> Les analyses isotopiques comme preuve scientifique d'origine
10h40 : Pause café sponsorisée par Digital Surf - visite des stands & networking
. 11h10 : Florian Trichard, Ablatom
> Du laboratoire aux procédés industriels, la spectroscopie LIBS au service de l'analyse et du contrôle de la matière
. 11h25 : Ludovic Guilbert, GoyaLab
> Spectroscopie de fluorescence : application à l'identification des polymères de couleur noire
. 11h40 : Alain Gec, Quantum RX
> Déplacer le laboratoire sur le terrain à l'aide d'analyseur portable, XRF et LIBS
. 11h55 : Simon Dubuis, NLOptics
> Technique innovante de contrôle des surfaces : détection de monocouches pour capteurs moléculaires
12h10 : conclusion
12h20 : cocktail déjeunatoire sponsorisé par OptoSigma – visite des stands & networking
13h45 - 16h30 : au choix
. Echanges/networking entre participants
. Ou visite de Sabena Technics (sur inscription - complet) : ateliers de réparation/équipement/fabrication, laboratoire électronique, hangars, problématiques/solutions de CND
. Ou visite d'ArianeGroup (site du Haillan - complet) : présentations plénières, hall d'exposition de la propulsion solide, atelier de fabrication composite, moyens de CND
Les exposants
Les sponsors
